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總局劉俊臣副局長視察中國商標大樓

來源:admin 發布于:2014-07-25 10:59
文章導讀: 5月29日上午,總局劉俊臣副局長到商標大樓視察。在商標局許瑞表局長、商評委何訓班主任的陪同下,劉俊臣副局長先后視察了商標注冊大廳、檔案庫房、計算機房、辦公區域,親切看望了商標局全體干部,聽取了商標局工作匯報,并對商標局下一步工作作出重要指示。 ...
    
  5月29日上午,總局劉俊臣副局長到商標大樓視察。在商標局許瑞表局長、商評委何訓班主任的陪同下,劉俊臣副局長先后視察了商標注冊大廳、檔案庫房、計算機房、辦公區域,親切看望了商標局全體干部,聽取了商標局工作匯報,并對商標局下一步工作作出重要指示。
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